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文章詳情

在線測(cè)試儀ICT8001A

  • 產(chǎn)品名稱:在線測(cè)試儀ICT8001A
  • 產(chǎn)品型號(hào):ict8001a
  • 產(chǎn)品廠商:其它品牌
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹
在線測(cè)試儀ICT8001A  SRC系列ICT SRC8001A/SRC8001系列是超高速、網(wǎng)絡(luò)化在線測(cè)試儀

在線測(cè)試儀ICT8001A

的詳細(xì)介紹
在線測(cè)試儀ICT8001A
商品描述:

  SRC系列ICT

  SRC8001A/SRC8001系列是超高速、網(wǎng)絡(luò)化在線測(cè)試儀

  SRC8001A/SRC8001系列產(chǎn)品性能特點(diǎn):

  ★ WIN2000/XP全中文簡(jiǎn)體/英文操作系統(tǒng),軟件友好,運(yùn)行穩(wěn)定、**、可靠,便于操作!

  ● 配備光電保護(hù)功能,給予操作者*大限度的**保護(hù)。

  ● 超強(qiáng)的兼容性:市場(chǎng)各主流ICT機(jī)型治具(針床)、程序均能自由兼容和轉(zhuǎn)換。

  ★ 采用ARM CPU嵌入式處理器,提高了測(cè)試精度和穩(wěn)定性。
  ★ 雙通道高速同步采集技術(shù),大大提高了測(cè)試速度。
  ★ 采用DDS信號(hào)源,不需校準(zhǔn),頻率精度高。
  ★ 模塊化硬件設(shè)計(jì)及可編程測(cè)試方法,使功能擴(kuò)展更加方便。

  ● 密碼保護(hù)功能:數(shù)據(jù)有管理員、工程師和操作工三個(gè)級(jí)別,使數(shù)據(jù)管理**可靠。
  ★ 采用數(shù)據(jù)庫管理,方便數(shù)據(jù)的存取和統(tǒng)計(jì)。數(shù)字、圖表、曲線等豐富的統(tǒng)計(jì)功能,提供改進(jìn)工藝和質(zhì)量管理的*可靠數(shù)據(jù)。
  ★ 全自動(dòng)放電功能,對(duì)電路板或部件進(jìn)行測(cè)試前后的放電,以保護(hù)系統(tǒng)及被測(cè)產(chǎn)品。

  ● 采用四針八線測(cè)試技術(shù),排除引線電阻及探針接觸電阻,使微電阻測(cè)試更加穩(wěn)定。

  ● 極高的測(cè)試覆蓋率和分辨率,可測(cè)光電耦合器、電位器、接插件等器件。
  ★ 每步高達(dá)8針隔離,對(duì)元器件提供*佳、*高效率的測(cè)試條件。

  ● 完善的自檢功能:可對(duì)AC、DC、通道板、信號(hào)板、I/O卡等進(jìn)行檢查,其結(jié)果可自動(dòng)顯示是否正常及**內(nèi)容,使設(shè)備達(dá)到*穩(wěn)定的運(yùn)行狀態(tài),保障工作前設(shè)備永處良好。

  ● 條碼輸入:將PCB的編號(hào)用條碼掃描,可以存儲(chǔ)測(cè)試結(jié)果,為生產(chǎn)或維修管理提供數(shù)據(jù)。

  ● 可對(duì)柔性電路板(FPC板)測(cè)試,線材及焊接器件測(cè)試。

  ● 自由選擇擴(kuò)充:標(biāo)準(zhǔn)點(diǎn)數(shù)320點(diǎn),可依需要增配到6336(64點(diǎn)/塊開關(guān)板)或6336點(diǎn)(128點(diǎn)/塊開關(guān)板),滿足生產(chǎn)線不同產(chǎn)品的測(cè)試需求。
在線測(cè)試儀ICT8001A
  規(guī) 格 說 明

  測(cè)試點(diǎn)數(shù): 標(biāo)準(zhǔn)配置320點(diǎn),可擴(kuò)充到2496點(diǎn),開關(guān)板以64點(diǎn)/塊為單位增設(shè)開/短路測(cè)試
  1、測(cè)試方法:分組掃描
  2、編程方法:自動(dòng)學(xué)習(xí)
  3、測(cè)試閥值:5Ω~80Ω可編程
  4、測(cè)試電流:≤10mA
  5、測(cè)試速度:1024點(diǎn)<1s (全開路)

  測(cè)試電壓:-10~+5V之間連續(xù)可調(diào)(繼電器開關(guān)板為-10V~+10V)
  測(cè)試電流:0.1μA~10mA可編程(CMOS開關(guān)板為0.1μA~20mA)
  測(cè)試速度:平均10ms每步
  電阻測(cè)試:0.1Ω~40MΩ 小于1Ω時(shí),可分辨到10mΩ,大于1Ω為±3%
  電容測(cè)試測(cè)試范圍:5pF~40mF,測(cè)試精度:±5%
  電 感1μH~250H ±5%
  跳 線測(cè)試閥值:1Ω~100Ω可設(shè)定,測(cè)試電壓:2.5V
  PN結(jié)正向?qū)ㄌ匦?0V~5 V
  二極管PN結(jié)曲線測(cè)試、正反向壓降測(cè)試
  三極管①通斷測(cè)試 ②極性測(cè)試bce三針測(cè)式 ③β值測(cè)量
  電壓RELAY開關(guān)板*高200V(選配),對(duì)于CMOS開關(guān)板*高10V
  穩(wěn)壓管RELAY開關(guān)板≤18V(選配),CMOS開關(guān)板為0~12V
  頻率測(cè)試 0.1Hz~50MHz (選件) ±0.1%
  數(shù)字晶體管250mv-10v 激勵(lì)電流10mA
  普通晶體管β值 1~1000,≤10mA驅(qū)動(dòng)電流 ±5%
  光電藕合器1mA~10mA驅(qū)動(dòng) 0.01V~2.5v變化量
  多管腳器件光電藕合器、場(chǎng)效應(yīng)管、可控硅、電位器、繼電器、接插件等

  驅(qū)動(dòng)電流0~10mA 驅(qū)動(dòng)電壓0~10V
  極性電容三針測(cè)量:1μF~40mF(金屬外殼)
  IC管腳PN結(jié)掃描、電壓感應(yīng)測(cè)試、三針電壓掃描
  自動(dòng)隔離隔離方法:自動(dòng)/人工設(shè)置,隔離點(diǎn)數(shù):*多8點(diǎn)/步
  隔離電流:0~10mA CMOS開關(guān)板10mA
  自動(dòng)放電功能 測(cè)試前,雙針或全板放電。CMOS放電電壓<15V,Relay放電電壓<220V
  主控計(jì)算機(jī)品牌計(jì)算機(jī) 內(nèi)存:256M以上, 硬盤:80G, CPU:塞揚(yáng)2.66G以上
  氣動(dòng)壓床含光電保護(hù)功能,探針接觸情況自動(dòng)檢查能力,
  *大可測(cè)PCB 500mm×390mm×100mm
  *大行程150mm *大壓力:3925N(0.5Mpa)

  安裝條件
  1.電源:AC220V(1±10%) 50Hz±5%
  2.接地:靜電接地
  3.環(huán)境:溫度10℃~35℃
  4.氣源:0.4~0.6MPa
  5.濕度:30%RH~80%RH
  6.外型尺寸:1000mm×800mm×1600mm

 

 

可擴(kuò)展的功能測(cè)試項(xiàng):

1、震動(dòng)器:

手機(jī)震動(dòng)器的測(cè)試,測(cè)試轉(zhuǎn)動(dòng)與否

2、壓敏電阻:

測(cè)試壓敏電阻的好壞,精度±5%

3、光敏器件:

測(cè)試光敏器件的好壞。

4、霍爾元件:

測(cè)試霍爾器件功能的好壞。

5、測(cè)頻率:

測(cè)量頻率值。對(duì)待測(cè)點(diǎn)進(jìn)行頻率測(cè)試,被測(cè)信源為小交流信號(hào)(

1-8V)TTL信號(hào)。

6、測(cè)電壓(0-10V):

測(cè)量輸出的交、直流電壓,可測(cè)試帶直流輸入的平均值或峰峰值,

或交流信號(hào)的峰峰值

7、測(cè)電流:

輸出一直流電壓,測(cè)量輸出的電流,測(cè)試范圍0~80mA,精度±

10%

8、靜態(tài)電流:

測(cè)量被測(cè)對(duì)象未工作時(shí)的微安級(jí)的靜態(tài)電流,

9、程控電源:

可按客戶需求定制電源

10、多路程控電源:

同時(shí)提供三路電壓和一路恒流。

11、信號(hào)調(diào)理板:

專門設(shè)計(jì)應(yīng)用于微小電壓,電流信號(hào)檢測(cè)的信號(hào)調(diào)理板,具有動(dòng)

態(tài)濾波器,可使用軟件設(shè)置特定頻率的信號(hào)進(jìn)行測(cè)量。

12LED測(cè)試(RGB):

專門用于測(cè)量LED的亮度和顏色。

13、LED亮度:

采用專用亮度測(cè)試模塊,將LED發(fā)光的RGB分量分別加以測(cè)量,

以達(dá)到檢測(cè)LED亮度目的,或通過攝像頭抓圖的方式,來測(cè)量

LED的分量和亮度、顏色等。

15、大電流測(cè)LED

通過大電流測(cè)試模塊來測(cè)量亮度。

16、GPIB測(cè)試:

軟件提供連接、控制GPIB設(shè)備的接口,可以指令形式來控制

GPIB設(shè)備進(jìn)行相應(yīng)的操作,如發(fā)送電壓(程控電源)、測(cè)試頻率

(示波器)等。

17、IIC通訊模塊

采用模塊化設(shè)計(jì),用于測(cè)試IIC接口設(shè)備,可根據(jù)IIC設(shè)備的不

同,編輯不同的測(cè)試步進(jìn)行測(cè)試。

18、FIN668功能測(cè)試

專用FIN668芯片測(cè)試模塊。

19TVS測(cè)試

用于測(cè)試TVS器件的擊穿電壓,反向漏電流等。