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Agilent Medalist i3070

  • 產(chǎn)品名稱:Agilent Medalist i3070
  • 產(chǎn)品型號(hào):hp3070/i3070/agilent3070
  • 產(chǎn)品廠商:agilent
  • 產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹
安捷倫為電子器件制造商提供**的電路板測(cè)試解決方案,能夠處理復(fù)雜印刷電路板裝配所遇到的各種 PCBA 測(cè)試接入和測(cè)試范圍問題。 Agilent Medalist i3070 系列 5 測(cè)試系統(tǒng)提供了一個(gè)新的模擬激勵(lì)和響應(yīng)單元(ASRU)卡,其中包含新的數(shù)字測(cè)量電路(DMC),能夠?yàn)橄到y(tǒng)提供額外的特性和提高系統(tǒng)模擬測(cè)試速度(可達(dá)到總模擬測(cè)試時(shí)間的20%)。

Agilent Medalist i3070

的詳細(xì)介紹

描述

Agilent Medalist i3070  5 系統(tǒng)不僅提供在線測(cè)試能力而且還具有其他測(cè)試功能,可對(duì) PCBA 進(jìn)行*廣泛的測(cè)試,因而能夠滿足大多數(shù)主流電子產(chǎn)品制造商的需求。對(duì)于那些需要更少節(jié)點(diǎn)測(cè)試功能的客戶來說,i3070 雙模塊選件是理想的選擇。

所有Agilent Medalist i3070  系列 5 測(cè)試系統(tǒng)均加入了新的基礎(chǔ)架構(gòu),以便更加靈活地添加、控制和連接外部電子設(shè)備或儀器。該系統(tǒng)允許將外部電子設(shè)備插入測(cè)試機(jī)臺(tái),如同該設(shè)備已經(jīng)集成到系統(tǒng)中。外部電子設(shè)備可以是功能性測(cè)試電路,用于為 ICT 提供額外的功能測(cè)試范圍,或者為被測(cè)單元提供額外的激勵(lì),以提高測(cè)試覆蓋率。外部電子設(shè)備控制、測(cè)試順序和測(cè)試結(jié)果仍通過 BT-BASIC 測(cè)試程序來實(shí)現(xiàn),由用戶熟悉的測(cè)試機(jī)臺(tái)的電腦實(shí)施。

為了支持增強(qiáng)的性能,PCBA 如今擁有更高的電流要求,因此可通過測(cè)試儀向被測(cè)單元送入 10 A 的電流。電源端口也可經(jīng)過多路復(fù)用處理,所以一個(gè)電源可以*多向一個(gè)面板中不同的 6 個(gè)電路板供電,每個(gè)電源通道都由一個(gè)繼電器控制,以保護(hù)被測(cè)單元。

i3070 系列 5 測(cè)試系統(tǒng)包含了一個(gè)新的模擬激勵(lì)和測(cè)量單元(ASRU),可將模擬測(cè)試速度提高 20%,進(jìn)而提高產(chǎn)量。

此前版本中的受限接入測(cè)試工具也包含在該測(cè)試系統(tǒng)中。

如果您的大型電路板需要速度更快,測(cè)試覆蓋率更高的測(cè)試,那么,E9903E i307x 系列 5 系統(tǒng)將是*佳選擇。

所有 Agilent Medalist i3070  測(cè)試系統(tǒng)都支持多路復(fù)用(Mux)pin卡和非多路復(fù)用(UnMux)pin卡。這樣,在您使用該系統(tǒng)時(shí)就會(huì)有更多的靈活性。

特性 Analog Plus (Mux) Access Plus (Mux) Hybrid Plus (Mux) Hybrid 144 (Unmux)
每個(gè)pin卡的測(cè)試節(jié)點(diǎn) 144 8 x 高頻率 10:28 儀器端口 24 x 通用繼電器 144 144
每個(gè)pin卡的數(shù)字通道 16 144
*大數(shù)字向量執(zhí)行速率/頻率 高頻:100MHz
儀器端口:25MHz
通用繼電器:無
6/12/20 MPS 6 MPS
每個(gè)模塊/系統(tǒng)的*大pin卡數(shù)** 9/18 9/18 9/18 9/18
模擬電壓范圍 0-100V 0-100V 0-100V 0-100V
數(shù)字驅(qū)動(dòng)/接收范圍 -3.5 至 5.0V 0 至 4.75V
數(shù)字測(cè)試的向量周期精度 +/- 10 nS +/- 10 nS