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檢測(cè)電容極性的2大方法

日期:2024-08-01 20:30
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摘要: 一,偵錯(cuò)要點(diǎn) ·可互換高低點(diǎn),通過(guò)比較量測(cè)值,來(lái)決定較佳的參照值:標(biāo)準(zhǔn)值: ·缺件測(cè)量值顯示為-1,反向Mode 18量測(cè)值為負(fù)值, Mode 8則低于下限。 ·若互換高低點(diǎn)測(cè)量值差異不大可調(diào)整延時(shí)或?qū)嶋H值。 ·若互換高低點(diǎn)測(cè)量值皆很低,可能是第三端接觸問題,可先檢查第三端是否接觸正?;虼郎y(cè)電容有歪斜,可用換針或扶正待測(cè)電容方式解決。 ·治具制作時(shí)第三端選用測(cè)試針,需考慮相同位置待用料的高度差異,以免造成接觸**或刺穿待測(cè)物的問題。 ·三端電容測(cè)量是用來(lái)檢測(cè)缺件及反向,...
 

一,偵錯(cuò)要點(diǎn)

·可互換高低點(diǎn),通過(guò)比較量測(cè)值,來(lái)決定較佳的參照值:標(biāo)準(zhǔn)值:

·缺件測(cè)量值顯示為-1,反向Mode 18量測(cè)值為負(fù)值,  Mode 8則低于下限。

·若互換高低點(diǎn)測(cè)量值差異不大可調(diào)整延時(shí)或?qū)嶋H值。

·若互換高低點(diǎn)測(cè)量值皆很低,可能是第三端接觸問題,可先檢查第三端是否接觸正常或待測(cè)電容有歪斜,可用換針或扶正待測(cè)電容方式解決。

·治具制作時(shí)第三端選用測(cè)試針,需考慮相同位置待用料的高度差異,以免造成接觸**或刺穿待測(cè)物的問題。

·三端電容測(cè)量是用來(lái)檢測(cè)缺件及反向,無(wú)法檢測(cè)錯(cuò)件。

·按F12,查看測(cè)量值曲線,以決定*佳的參照值和延時(shí)。

 

 

 

二,關(guān)于電容極性檢測(cè)方法

1.漏電流法

偵錯(cuò)要點(diǎn):

·實(shí)際值以5V--10V測(cè)量時(shí),標(biāo)準(zhǔn)值之漏電流值約0.2mA--0.5mA,若反插時(shí),其反向漏電流值會(huì)遠(yuǎn)大于正向漏電流值。高點(diǎn)之腳號(hào)即是電容+端之測(cè)試針號(hào)碼,而低點(diǎn)之腳號(hào)即是電容---端之測(cè)試針號(hào)碼,通常須加較大的延遲時(shí)間,漏電流才會(huì)穩(wěn)定。

·若因大電容并聯(lián)IC或電感等元件,可能會(huì)使電容正反向漏電流差異不大而無(wú)法偵測(cè)出其電容極性。

 

2.三端測(cè)試法

      電容極性測(cè)試的另一方法是三端測(cè)試,須在上方加一探針觸及殼體,在電容的正負(fù)極加載直流電壓,至充飽后測(cè)量殼體電壓,由于正負(fù)極與殼體間的阻電容的極性。以下為典型的設(shè)定。

零件名稱

實(shí)際值

標(biāo)準(zhǔn)值

上限

下限

模式

類型

高點(diǎn)

低點(diǎn)

延時(shí)

1

CEI

0.2

0.12V

-1

20

8

PX

陰極

陽(yáng)極

20

外殼

CEII

0.2

0.001V

-1

20

18

PX

陰極

陽(yáng)極

20

外殼

實(shí)際值:為加載電壓,建議為0.2V