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ICT測試出來的**維修

日期:2024-08-03 21:02
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摘要: 1.ICT**的類型主要有以下幾種(以HIBEX MERCURY型ICT為例): ·SHORT FAIL 短路**,本應(yīng)該短路的,實(shí)質(zhì)上開路 ·OPEN FAIL 開路**,本應(yīng)該開路的,實(shí)質(zhì)上短路 ·HIGA FAIL 測試值遠(yuǎn)遠(yuǎn)的高于設(shè)定值的誤差范圍 ·LOW FAIL 測試值遠(yuǎn)遠(yuǎn)的低于設(shè)定值的誤差范圍 ·FAIL MODE 被測試的元器件與測試程序里預(yù)先設(shè)置的類型不相同 ·NC FAIL 被測試的元器件沒有放進(jìn)測試程序中 ·POL FAIL 被測試的元器件的極性(電容除外)插反 ·OPEN FAIL NODE 在兩個(gè)或兩個(gè)以上的測試針短路,本來...
 1.ICT**的類型主要有以下幾種(以HIBEX MERCURYICT為例):

·SHORT FAIL 短路**,本應(yīng)該短路的,實(shí)質(zhì)上開路

·OPEN FAIL 開路**,本應(yīng)該開路的,實(shí)質(zhì)上短路

·HIGA FAIL 測試值遠(yuǎn)遠(yuǎn)的高于設(shè)定值的誤差范圍

·LOW FAIL 測試值遠(yuǎn)遠(yuǎn)的低于設(shè)定值的誤差范圍

·FAIL MODE 被測試的元器件與測試程序里預(yù)先設(shè)置的類型不相同

·NC FAIL 被測試的元器件沒有放進(jìn)測試程序中

·POL FAIL 被測試的元器件的極性(電容除外)插反

·OPEN FAIL NODE 在兩個(gè)或兩個(gè)以上的測試針短路,本來應(yīng)該是開路的

·SHORT FAIL NODE 在兩個(gè)或兩個(gè)以上的測試PIN開路,本來應(yīng)該是短路的

 

2.總體來說,ICT**的維修,基本上都是從以下幾點(diǎn)進(jìn)行:

·部品本身有誤配或**的情況發(fā)生

·ICT PINBOARD本身針點(diǎn)上有異物

·ICT PINBOARD 本身有針**

·PCB上的測試點(diǎn)無焊錫

·PCB上的測試點(diǎn)有異物

·PCB上的測試儀點(diǎn)光澤度看上去比較差,表面測試點(diǎn)上松香過多