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文章詳情
ICT分為三大部份
日期：2024-08-03 21:02
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摘要：
▲Testhead :ICT測試機臺部份
▲Computer :計算機部份
▲Support Bay:電源箱部份
測試機臺架有測試治具 , 由氣壓(air)閥把治具鎖在機臺上 ; 測試時由使用真空( Vacuum )抽取治具內(nèi)的空氣 ; 使治具上下板的測試針,扎到板上的測試點上 ; 由機臺內(nèi)的控制卡在控制測試 .
其測試功能有如使用數(shù)千個三用電表在測試，但不同處在于使用OP Amp反相放大電路來量測，除open、short testing外并且可測試電路板上單一零件；另外可以由電源箱提供電源, 上電至待測板上 ; 進行數(shù)字測試 .
程序的測試順序 :
( 一般測試分為此幾大項 , 講解重點 : 測試順序, 測試內(nèi)容 )
▲ Pins test: 測試探針接觸待測板是否良好
▲ Shorts test: 測試open及shorts
▲ Unpower analog: 不上電的模擬組件測試,像拿電表量組件一樣
▲ Testjet: 利用電容原理,測試組件或connect開路
▲ Auto inster: 用來測試無法使用Testjet 測試的connect,例如:橫向開口connect
▲ On power: 由power supply供電至待測板
▲ Digital test: 數(shù)字組件或IC組件測試
▲ Analog function: 一些必須上電測試的大電壓模擬